产品展示
您当前的位置：首页 » 产品展示 » 二手物理仪器 » 31WII二米平面光栅摄谱仪
| 产品名称： | 31WII二米平面光栅摄谱仪 |
| 产品型号： | |
| 品牌： | 1355 |
| 产品数量： | |
| 产品单价： | 面议 |
| 日期: | 2024-04-24 |
31WII二米平面光栅摄谱仪的详细资料
31WII光栅摄谱仪 二米平面光栅摄谱仪
二手闲置，存货不多，数量有限，售完即止。
二手上光31WII光栅摄谱仪 二米平面光栅摄谱仪质量保证
产品型号： 31WII 光栅摄谱仪 二米平面光栅摄谱仪
生产厂商： 国产 上光
主要技术指标
狭缝宽度范围： 0～0.3 毫米
狭缝宽度分度值： 0.001 毫米
狭缝宽度再现性： 0.001 毫米
狭缝有效高度： 10 毫米
外行尺寸： 24001500700 毫米立方
重量：约 150 公斤
仪器特点和应用范围
谱面平直在 240 毫米谱板内谱线清晰。
三块光栅可方便地互换使用（根据配备光栅选择合适的色散和灵敏波段）。
有高清晰灵敏度。
使用操作过程（对光、预燃、曝光，板移）自动控制。
该仪器主要应用于金属合金（包括矿物石）的日常定性定量分析，纯金属和材料的什质鉴定（包括纯烯土元素分析）。还可以应用于对混合烯土材料的直接分析，对烯有金属和其他多谱线元素进行分析。
主要技术指标
狭缝宽度范围： 0～0.3 毫米
狭缝宽度分度值： 0.001 毫米
狭缝宽度再现性： 0.001 毫米
狭缝有效高度： 10 毫米
外行尺寸： 24001500700 毫米立方
重量：约 150 公斤
仪器特点和应用范围
谱面平直在 240 毫米谱板内谱线清晰。
三块光栅可方便地互换使用（根据配备光栅选择合适的色散和灵敏波段）。
有高清晰灵敏度。
使用操作过程（对光、预燃、曝光，板移）自动控制。
该仪器主要应用于金属合金（包括矿物石）的日常定性定量分析，纯金属和材料的什质鉴定（包括纯烯土元素分析）。还可以应用于对混合烯土材料的直接分析，对烯有金属和其他多谱线元素进行分析。
注：产品照片为实物拍摄，供参考；本公司保留对产品进行改进提高的权利，届时恕不另行通知客户；本产品配置以及实际运费以装箱清单及货运距离为准。包装箱为定制实木结构，故在安全性上有保障，但相应重量及运费要高一些，请各位理解。